国家知识产权局信息显示,上海概伦电子股份有限公司申请一项名为“基于双边界反推的参数合理性检查方法、装置、设备及存储介质”的专利,公开号CN121257079A,申请日期为2025年9月。
专利摘要显示,本发明公开了一种基于双边界反推的参数合理性检查方法、装置、设备及存储介质,涉及半导体技术领域,适用于模型参数优化过程,方法包括:获取待优化模型的目标参数的候选值;识别与所述目标参数具有物理或数学约束关系的一个或多个关联参数;基于所述关联参数的预定义边界值,通过反推计算获得所述目标参数的第一允许取值范围;获取所述目标参数自身预定义的第二允许取值范围;根据所述第一允许取值范围和所述第二允许取值范围,确定所述目标参数的最终有效边界;将所述候选值与所述最终有效边界进行比较,来判断所述目标参数的取值是否合理,通过动态反推关联参数边界,提供参数优化结果的整体合理性和准确性。
天眼查资料显示,上海概伦电子股份有限公司,成立于2010年,位于上海市,是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本43517.7853万人民币。通过天眼查大数据分析,上海概伦电子股份有限公司共对外投资了20家企业,参与招投标项目61次,财产线索方面有商标信息34条,专利信息143条,此外企业还拥有行政许可10个。
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本文源自:市场资讯
作者:情报员
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