北京
国家知识产权局信息显示，深圳卓砺启元半导体设备研发有限公司申请一项名为“一种激光散射式颗粒测量腔体及其测量方法”的专利，公开号CN121253388A，申请日期为2025年9月。
专利摘要显示，本申请涉及粒子检测的技术领域，公开了一种激光散射式颗粒测量腔体，一个腔体主体结构；两个反射镜承靠结构对称地固定于腔体主体结构的左右两侧；腔体内部设置有上下各两组反光镜，反射镜的边缘承靠于反射镜承靠结构的内壁；两个光电阵列二极管承靠于反射镜承靠结构上，并分别位于腔体的上下两侧；两个窗口法兰设置在反射镜承靠结构的外侧；两个窗口镜固定于窗口法兰上；两个激光对齐结构，其与窗口法兰固定，用于调整和固定外部激光器的入射角度；至少一个进气法兰和一个出气法兰，其安装于反射镜承靠结构上，与设置在反射镜承靠结构内部的进气通路和出气通路相连通；密封组件，其设置于各连接界面处；本申请还提供一种方法适用上述腔体。
天眼查资料显示，深圳卓砺启元半导体设备研发有限公司，成立于2025年，位于深圳市，是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本50万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳卓砺启元半导体设备研发有限公司共对外投资了1家企业，专利信息1条。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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