北京
国家知识产权局信息显示，北京吉天仪器有限公司申请一项名为“基于数据分析的质谱仪分辨率提升方法及系统”的专利，公开号CN121253642A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本发明公开了基于数据分析的质谱仪分辨率提升方法及系统，涉及精密检测技术领域，包括以下步骤：S100，在连续采样信号中以细时间粒度逐点追踪高能段相位变化，将每一次相位上升与相位下降以时间顺序连接，生成连续延展的相位起伏时间带，用于构建贯穿的相位跟踪基础；S200，围绕相位起伏时间带逐节比对相邻采样节拍差值，对出现相位断链的位置按时间顺序聚集成突跳候选片段清单，并在每个突跳候选片段清单中记录起点、终点及能量突增位置，用于后续裂缝定位。本发明通过构建相位起伏时间带、提取突跳片段并生成裂缝指纹图，结合细粒度采样调控与螺旋重排式相位驯化，实现异常信号修复与峰形重塑，提升质谱分辨率与稳定性，增强定量准确性。
天眼查资料显示，北京吉天仪器有限公司，成立于2000年，位于北京市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，北京吉天仪器有限公司参与招投标项目996次，财产线索方面有商标信息3条，专利信息163条，此外企业还拥有行政许可34个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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