北京
国家知识产权局信息显示，深圳市嘉合劲威电子科技有限公司申请一项名为“自调节SSD老化测试方法与设备”的专利，公开号CN121237172A，申请日期为2024年6月。
专利摘要显示，本发明涉及一种自调节SSD老化测试方法与设备，方法依序包括：S1、装载SSD DUT装置在治具盘中，以携带电测区的控制信息至老化区以及将老化区的测试结果传送到电测区；S2、以外烧机程序执行全区老化SSD DUT装置的所有数据块，以剔除早期潜在不良的数据块；S3、以内烧机程序执行第一自调节方式老化SSD DUT装置的可靠性数据块，以分辨出并标记剩余可靠性数据块的稳定数据块与不稳定数据块。优选示例中，方法还包括：S5、在电测区基于第一测试结果的读取，修正外烧机程序，以提高下一次标记早期潜在不良的数据块的剔除量。故能省略使用RDT测试设备的RDT开卡与减少在RDT与BIT之间的移栽，能对SSD DUT装置的可靠性数据块进行自我循环的数据储存与重置的调节式BIT老化。
天眼查资料显示，深圳市嘉合劲威电子科技有限公司，成立于2012年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本1861.3296万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市嘉合劲威电子科技有限公司共对外投资了5家企业，参与招投标项目20次，财产线索方面有商标信息109条，专利信息123条，此外企业还拥有行政许可38个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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