北京
国家知识产权局信息显示，安测半导体技术（义乌）有限公司申请一项名为“一种晶圆测试中Map Shift异常的侦测方法、电子设备、存储介质”的专利，公开号CN121211281A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本发明涉及半导体晶圆测试技术领域，具体涉及一种晶圆测试中 Map Shift 异常的侦测方法，具体步骤包括建立Prober配方参数，根据Prober配方参数生成晶圆样本，测试晶圆样本生成MAP(0)文件；解析MAP(0)文件，获取并存储该样本晶圆的中心晶粒坐标信息作为标准比对值；测试晶圆生成对应的测试结果MAP(i)文件；解析晶圆的MAP(i)文件，获取其中心晶粒坐标信息；将所述晶圆的中心晶粒坐标进行比对；判断是否一致，若存在差异，则判定当前晶圆存在Map Shift异常，本发明可以直接比对Prober生成MAP时使用的核心坐标参数，判断直接，不受晶圆边缘良率分布的影响,准确性高,有效避免了因产品本身良率特性而导致的误判,降低了误报率。
天眼查资料显示，安测半导体技术（义乌）有限公司，成立于2021年，位于金华市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本14722.7394万人民币。通过天眼查大数据分析，安测半导体技术（义乌）有限公司共对外投资了5家企业，参与招投标项目1次，专利信息27条，此外企业还拥有行政许可2个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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