北京
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国家知识产权局信息显示，泰瑞达公司申请一项名为“被配置为在不同温度下测试器件的测试系统”的专利，公开号CN121219563A，申请日期为2024年5月。
专利摘要显示，示例测试系统包括气室和机架，该气室包括空气入口，该机架包括插槽以保持受测器件。机架与气室相邻。插槽以矩阵的形式布置在机架上，使得保持在插槽中的每个器件的一部分与气室邻接并且与空气入口流体连通。一个或更多个鼓风机被配置为迫使温度调节空气进入气室的空气入口，从而增加气室中的空气压力，并且迫使温度调节空气绕过器件并离开气室。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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