国家知识产权局信息显示,武汉新芯集成电路股份有限公司申请一项名为“量测数据变化趋势检测方法、系统及计算机存储介质”的专利,公开号CN121211256A,申请日期为2025年9月。
专利摘要显示,本发明提供一种量测数据变化趋势检测方法、系统及计算机存储介质,所述量测数据变化趋势检测方法包括:将历史的量测数据与新的量测数据进行整合;按照时间序列从整合后的历史的量测数据与新的量测数据中依次选取多组预设数量的数据,并判断每组预设数量的数据中的第二最值是否位于第一最值之后;若判断当前组的预设数量的数据中的所述第二最值位于第一最值之后,则截取当前组的预设数量的数据中的第一最值至第二最值的区间数据;按照时间序列合并所有的区间数据,并判断合并后的区间数据的变化趋势是否存在异常。本发明的技术方案使得能够有效检测量测数据的变化趋势。
天眼查资料显示,武汉新芯集成电路股份有限公司,成立于2006年,位于武汉市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本847900.6412万人民币。通过天眼查大数据分析,武汉新芯集成电路股份有限公司共对外投资了2家企业,参与招投标项目225次,财产线索方面有商标信息68条,专利信息1797条,此外企业还拥有行政许可106个。
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本文源自:市场资讯
作者:情报员
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