北京
国家知识产权局信息显示，西安华瑞恒泰信息技术有限公司申请一项名为“基于图像识别的天线阵列基板缺陷检测方法”的专利，公开号CN121053131A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本发明公开了基于图像识别的天线阵列基板缺陷检测方法，涉及图像识别领域，该方法包括：采集天线阵列基板的图像，按照天线阵列划分标准，划分获得天线图像阵列；对多个天线图像进行特征识别，获得多个天线特征，与多个标准天线特征进行异常度分析，获得天线异常度阵列；根据天线异常度阵列，分别配置污染识别系数，进行污染识别；对天线异常度阵列和污染参数阵列进行移动窗口选取，并进行邻近天线变形验证和邻近天线污染验证，处理获得变形验证系数和污染验证系数，获得融合缺陷参数，作为缺陷检测结果。本发明通过图像识别的天线阵列基板缺陷检测方法，解决缺陷检测误报率高，缺陷检测结果效率低、准确性不足的问题。
天眼查资料显示，西安华瑞恒泰信息技术有限公司，成立于2014年，位于西安市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，西安华瑞恒泰信息技术有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目13次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息12条，此外企业还拥有行政许可10个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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