在现代光学系统的发展进程中,光信号损耗是影响系统性能的关键因素,其主要源于光学器件的透射、吸收和散射现象。而超高反射率器件在强激光系统、激光陀螺仪、高精度光谱以及引力波探测等前沿科技领域中发挥着不可或缺的作用。因此,精确测量反射率成为了光学研究与应用中的重要环节。目前,分光光度法、光腔衰荡法(Cavity Ring - Down Spectroscopy, CRDS)等技术以及航鑫光电自主研发的反光率仪JY - F03,为反射率的测量提供了多样化的解决方案。
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传统分光光度法:基础与局限
分光光度法作为最基础的反射率测量手段,基于测量反射光能量来确定反射率,分为直接测量和间接测量两种方式。在间接测量中,光源发出的测试脉冲依次经过反射镜M1、标准样品R和反射镜M2后,出射脉冲抵达功率探测器;将标准样品R替换为待测样品S,通过测量出射脉冲在功率探测器上的变化来测试待测样品的反射率。直接测量则是把待测样品S插入光路,调整光路使输出光脉冲仍能到达功率探测器,对比插入前后的出射光变化得到待测样品的反射率。
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分光光度法的优势在于其测得的反射率与参考镜和其他光学元件的反射率无关,且采用宽谱灯作为光源,可获取样品反射率光谱曲线。然而,该方法存在明显的局限性。对于反射率达到99.9%以上的样品,测量结果对功率探测器和光源功率稳定度要求极高,商业分光光度计的测量不确定度约为±0.1% - ±0.3%。此外,它还存在入射角有限、光学元件直径大以及对光路稳定性要求高等问题。
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光腔衰荡法:高精度测量的革新
光腔衰荡法(CRDS)是一种基于光在封闭腔体内衰减过程的高精度测量技术,克服了传统分光光度法的诸多不足。其基本原理是向由超高反射率镜片构成的腔体中注入激光脉冲,利用腔镜对光子的多次反射在腔内建立稳定光场。通过精确监测光强随时间的衰减曲线(即衰荡时间),可精准计算出腔体的内部损耗,进而推算出待测材料的反射率,且测量结果不依赖于标准样品的定标。
光腔衰荡法的典型测量系统由脉冲激光源、模式匹配光路、待测样品组成的光学谐振腔、会聚透镜和光电探测模块构成。测试时,先用装置测量直腔衰荡信号。当入射激光与衰荡腔模式匹配时,透射的光脉冲信号为衰荡信号,其能量随时间呈单指数衰减,将测得的衰荡信号按单指数衰减函数拟合,即可得到衰荡时间。当激光脉冲进入衰荡腔后,光腔输出信号和衰荡时间有特定的表达式。当腔内介质为空气,折射率n近似为1,且腔内无吸收介质(α = 0)时,可根据衰荡时间计算腔镜平均反射率。为测量待测平面镜M3的反射率,通常在光学直腔中插入待测镜M3构成折叠腔,分别测量直腔和折叠腔信号并拟合得到相应的衰荡时间,从而计算出待测镜的反射率。
光腔衰荡法具有多方面的技术优势。它具有超凡的测量精度,能够实现亚ppm级别的测量灵敏度,可准确检测极其微小的反射率变化。具备实时的动态监测能力,响应快速,适用于实时监测快速变化的物理或化学过程,为动态研究提供有效手段。该方法无需标准参考即可独立测量未知样品,简化了实验设计,提高了测量效率。而且覆盖从紫外至红外的广阔波长区间,在多种光学研究中都能发挥重要作用。不过,光腔衰荡法在实际应用中也面临一些挑战,如腔体稳定性和环境干扰等问题,需要科研人员在实践中不断优化和改进。
航鑫光电反光率仪JY - F03:创新与实用的结合
航鑫光电自主研发的反光率仪JY - F03在反射率检测领域具有独特的优势。它采用一体式测量,支持智能操作,配备嵌入式电脑,操作十分便捷。该反光率仪具备宽光谱检测能力,检测范围为380 - 1000nm,测量数据稳定且准确性高。其测量速度极快,能在毫秒之间得出数据。此外,它还通过了第三方权威认证,可出具计量证书,是拥有专利的自主研发产品。
该仪器支持XY色度图、L·a·b测定,可依据分光测色法,通过分光反射率测定物体颜色。同时,它还能定制工业在线自动检测方案,可根据具体需求定制个性化方案,并且提供仪器终生保修服务。
应用领域拓展:推动光学技术发展
光腔衰荡法在材料科学中,为新型光学材料研究提供了测量材料光学特性的高效手段,推动了高性能光学器件的研发,如超高反射率镀膜技术的在线监测。在化学分析的痕量气体检测领域,能探测到ppb级别的气体浓度,对大气污染监测和工业生产安全意义重大。在生物医学的生物组织成像和诊断方面,凭借高分辨率的光学信息获取能力,为疾病的早期识别和治疗提供了新途径。
航鑫光电的反光率仪JY - F03可用于手机盖板、平板后盖板等反射率检测,灯罩、反光杯、汽车后视镜等反光率检测,涂料、颜料、油墨、塑料等反射率谱图测量及颜色分选,铜片等金属物体、矿石粉末、不透明薄膜、光学元件、太阳能硅片的反射率光谱测量,织物测量,珠宝翡翠钻石的鉴定以及固体样品的反射率检测等。
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随着光学技术的不断发展,光腔衰荡法和航鑫光电反光率仪JY - F03有望在更多领域发挥重要作用,为光学技术及相关产业的发展提供有力支持。
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