雪迪龙TOF-SIMS国产化项目正式启动，开启高端分析仪器自主创新新篇章

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（来源：雪迪龙）

　　2025年9月17日，一场承载着高端分析仪器自主化突破使命的盛会——雪迪龙飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）国产化项目启动仪式，在雪迪龙北京研发生产基地隆重举行。该项目的正式启动，不仅标志着雪迪龙在高端质谱仪器领域的国产化征程迈入关键阶段，更为我国在半导体、新能源等战略新兴产业的核心检测设备自主可控注入强劲动力。

　　雪迪龙董事长敖小强、海外业务总经理Kim Sand、董事会秘书葛毅捷、总工程师张倩暄等核心管理层悉数出席，与子公司英国Kore公司的技术专家Daniel Blenkhorn、Elizabeth Roberts，以及雪迪龙中国质谱团队核心成员齐聚一堂，共同见证这一重要时刻。各方代表深入交流，为项目后续的研发攻坚与市场拓展凝聚共识，形成跨地域、跨团队协同创新的强大合力。

　　作为此次项目的核心发力点，依托子公司Kore公司在TOF-SIMS技术领域的深厚积淀，结合雪迪龙在国内分析仪器市场的丰富经验与强大研发实力，双方联合共同攻克TOF-SIMS技术国产化过程中的关键难题，推动技术与场景化应用的深度融合。项目团队将以“模块化设计、高性价比定位、聚焦场景应用”为三大核心抓手，针对半导体芯片表面污染物分析、新能源材料界面成分表征、材料科学领域的微观结构分析、生物医学领域的细胞表面分子检测，以及环境监测中的痕量污染物溯源等核心需求，以技术创新破解行业痛点。

　　长期以来，我国高端TOF-SIMS仪器市场主要被国外品牌垄断，不仅设备采购成本高昂，后期的维护保养与技术支持也存在诸多不便，在一定程度上制约了我国相关产业的高质量发展。雪迪龙TOF-SIMS国产化项目的推进，将有效打破这一局面，降低国内企业与科研机构对国外高端仪器的依赖，提升我国在高端分析仪器领域的自主创新能力与国际竞争力，为我国战略新兴产业的持续健康发展保驾护航。

飞行时间二次离子质谱仪 SurfaceSeer S TOF-SIMS

飞行时间二次离子质谱仪 SurfaceSeer I TOF-SIMS

检测效能升级：采用脉冲式离子束技术，实现无损分析与高灵敏度检测；

　　分析性能卓越：配备液态金属离子枪，空间分辨率≤0.5 m，支持多场景化学成像与三维深度剖析，提升材料失效分析效率；

　　数据支撑强大：开发专用数据处理软件，集成上千种材料谱库。

质子转移反应飞行时间质谱仪 PTR-TOF 4000c

　　雪迪龙已完成质子转移反应飞行时间质谱仪（PTR-TOF）的全国产化迭代并实现市场销售，充分验证了公司的国产化研发与产业化能力，为TOF-SIMS国产化项目的顺利完成奠定了坚实的基础。