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金融界2025年7月29日消息，国家知识产权局信息显示，FEI公司取得一项名为“用于检查标本的带电粒子显微镜和确定所述带电粒子显微镜的像差的方法”的专利，授权公告号CN111243928B，申请日期为2019年11月。
本文源自：金融界
作者：情报员
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