67GHz 双同轴裸线的高频性能测试的挑战及应对方法

关键字： 67GHZ， 双同轴裸线， 高频测试，治具

搞要： 本文简要分析了67GHz 双同轴裸线的高频性能测试的挑战及应对方法，介绍测试样品准备的要点、测试治具的选择、如何优异地完成频率高达67GHz的性能测试。

正文

因应AI及高数据带宽要求，双同轴线材的应用频率越来越高，测试频宽要求达到了惊人的67GHz，线材生产厂家的工艺管控精度更是以微米计算，普通的PCB测试方案尽管完善到极致其测试上限只能达到50GHz，超过50GHz 时由于高频信号的反射加剧导致SDD21曲线抖动明显加大，测量值将严重偏离产品的实际性能表现。

图1： 用PCB测试治具测得的SDD21

为了得到优异的高频性能，须注意特性阻抗的连续性，端接位置的特性阻抗保持在100欧姆，使用10ps的上升时间进行端接位置的特性阻抗的分析其波动不要超过10欧姆。对双同轴裸线的处理根据经验铝箔去除长度不可超过0.5mm为佳，如图2所示

图2：双同轴裸线的铝箔去除长度不可超过0.5mm

测试治具在高频测试中的作用至关重要，高频测试治具不但要方便使用者操作、美观耐用，还需保证优异的高频性能，因此裸线高频测试治具的系统结构需保证阻抗的连续性，特别是端接位置的处理、屏蔽层的处理至关重要，裸线推入治具（图3）与治具内导体接触后，盖上金属盖板压下胶块固定线缆与治具（图4）。使用10ps的上升时间进行端接位置的特性阻抗的分析其波动不会超过10欧姆（图5）。测试结果显示SDD21直至67GHz曲线波动极小。（图6）

图3： 67GHz双同轴裸线测试治具

图4 67GHz双同轴裸线测试治具

结语

通过对待测物铝箔去除长度的控制及测试治具结构的处理保证了端接处特性阻抗的连续性，从而获得优异的67GHz高频测试性能，此方法适用于32AWG-26AWG的双同轴裸线的高频性能测试。

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