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金融界2025年7月22日消息，国家知识产权局信息显示，上海炬仁半导体有限公司申请一项名为“测试台、测试系统、器件测试方法及测试机”的专利，公开号CN120352755A，申请日期为2025年04月。
专利摘要显示，本申请实施例提供了一种测试台、测试系统、器件测试方法及测试机，属于测试技术领域，可以解决因排线与测试工位的实际连接关系与预期不一致，从而导致良品被丢弃，废品流入后续生产和销售环节，从而导致成本高昂并可能带来客户投诉的问题，能够提高FT测试的可靠性和效率。该测试台包括：一个或多个测试板，每个测试板包括：N个测试工位，每个测试工位用于以可拆卸方式设置一个被测器件；N个测试电阻，N个测试电阻的阻值各不相同，且分别与N个测试工位对应电连接；其中，N个测试电阻分别通过N个排线连接测试机，测试机用于对设置在N个测试工位上的N个被测器件并行测试，N为正整数且N>1。
天眼查资料显示，上海炬仁半导体有限公司，成立于2023年，位于上海市，是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，上海炬仁半导体有限公司专利信息2条。
本文源自金融界
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