北京
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金融界2025年7月5日消息，国家知识产权局信息显示，英飞凌科技股份有限公司申请一项名为“用于监测半导体装置的劣化的电路”的专利，公开号CN120254543A，申请日期为2024年12月。
专利摘要显示，本公开涉及用于监测半导体装置的劣化的电路。一种系统包括半导体装置，该半导体装置包括源极端子、漏极端子和在源极端子与漏极端子之间的界面层，该界面层包括多个界面沟道。该系统还包括劣化监测电路，该劣化监测电路包括电传感器，其中劣化监测电路被配置为：使用电传感器生成与多个界面沟道中的一个或多个界面沟道相对应的传感器信号；基于传感器信号确定多个界面沟道中的一个或多个界面沟道处是否存在材料的劣化；以及输出指示多个界面沟道中的一个或多个界面沟道处是否存在材料的劣化的信息。
本文源自：金融界
作者：情报员
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