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金融界2025年6月7日消息，国家知识产权局信息显示，斯派克-影像公司申请一项名为“用于测量悬浮在流体中的颗粒的颗粒尺寸的方法和组件”的专利，公开号CN120112779A，申请日期为2023年10月。
专利摘要显示，本公开内容涉及用于测量悬浮在流体中的颗粒的颗粒尺寸的方法，方法包括：利用周期波光学掩模调制(S1)辐射；利用经调制的辐射照射(S2)流体；利用捕获第一调制频率下的图像的2D检测器来检测散射辐射和/或透射辐射(S3‑1)；利用捕获第二调制频率下的图像的2D检测器来检测散射辐射和/或透射辐射(S3‑2)；分别提取(S4)第一调制频率的第一图像和第二调制频率的第二图像；分别基于提取的第一图像和提取的第二图像来分别计算(S5)第二调制频率和第一调制频率的第一消光系数；基于计算的第一消光系数与计算的第二消光系数之间的关系来确定悬浮颗粒的尺寸(S7)。本公开内容还涉及用于测量悬浮在流体中的颗粒的颗粒尺寸的组件。
本文源自：金融界
作者：情报员
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