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金融界2025年5月26日消息，国家知识产权局信息显示，上海利扬创芯片测试有限公司申请一项名为“一种晶圆测试温度转换监控方法”的专利，公开号CN120028667A，申请日期为2025年02月。
专利摘要显示，本发明涉及晶圆测试技术领域，公开了一种晶圆测试温度转换监控方法，通过自动读取测试设备的实时温度，并在已到达目标温度后自动计时，待计时时长达到与目标温度对应的静置时长时，才指示进行晶圆测试，使得可确保各种温度转换也能自动确认静置时长是否已足够，从而确保测试设备在温度转换稳定后才进行晶圆测试，不仅杜绝了由于温度转换不稳定导致的异常，而且提高了生产效率，减少了对人员的依赖。
天眼查资料显示，上海利扬创芯片测试有限公司，成立于2016年，位于上海市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本20000万人民币。通过天眼查大数据分析，上海利扬创芯片测试有限公司参与招投标项目4次，专利信息64条，此外企业还拥有行政许可12个。
本文源自：金融界
作者：情报员
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