北京
金融界2025年5月13日消息，国家知识产权局信息显示，苏州上器试验设备有限公司申请一项名为“一种四探针薄层方阻测试方法及测试装置”的专利，公开号CN119959616A，申请日期为2025年2月。
专利摘要显示，本发明提供一种四探针薄层方阻测试方法及测试装置，该方法包括以下步骤：S1、确定样品尺寸、氧化层厚度；S2、根据样品尺寸设置探头测试模式、探头间距；S3、根据氧化层厚度选择探头类型；S4、按照选定的探头及探头间距安装测试装置，测试装置根据选定的检测模式测试，并将采集的信息转化为方阻数据集并保存；S5、服务端将样品工位信息发送到测试装置，工位信息与对应的方阻数据集相关联后作为测试结果回到服务端；S6、服务端显示测试结果，并根据设定的方阻阈值判断测试是否合格。本发明本发明可根据不同的样品尺寸、样品工艺(氧化层厚度)配置不同的探头类型、数量及检测模式，提高了检测效率和检测精度。
天眼查资料显示，苏州上器试验设备有限公司，成立于2019年，位于苏州市，是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，苏州上器试验设备有限公司共对外投资了7家企业，参与招投标项目17次，财产线索方面有商标信息8条，专利信息40条，此外企业还拥有行政许可14个。
本文源自：金融界
作者：情报员
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