北京
金融界2025年5月9日消息，国家知识产权局信息显示，无锡伟测半导体科技有限公司申请一项名为“一种过流检测装置及芯片老化设备”的专利，公开号CN119936633A，申请日期为2025年4月。
专利摘要显示，本公开实施例中提供了一种过流检测装置及芯片老化设备，其中，用于通过控制一供电电路的开关控制端以控制供电电路的通断；供电电路包括耦接第一外部电源的供电端以及耦接负载的负载端；过流检测装置包括：过流检测电路，分别耦接供电端以及负载端，以检测供电电路在负载端的输出电流，并根据供电电路的输出电流生成用于判断输出电流是否过流的控制信号；保护电路，分别耦接过流检测装置以及供电电路，用于根据控制信号控制开关控制端以控制供电电路的通/断。本公开中每个待检测芯片都有独立的检测单元，当某个芯片发生故障时，仅切断该芯片的电源，不影响其他芯片的正常工作。
天眼查资料显示，无锡伟测半导体科技有限公司，成立于2020年，位于无锡市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本43000万人民币。通过天眼查大数据分析，无锡伟测半导体科技有限公司参与招投标项目12次，专利信息34条，此外企业还拥有行政许可64个。
本文源自：金融界
作者：情报员
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