北京
金融界2025年4月5日消息，国家知识产权局信息显示，武汉长盈通光电技术股份有限公司申请一项名为“用于测量双包层增益光纤光致暗化效应的方法”的专利，公开号 CN 119756784 A，申请日期为 2024年12月。
专利摘要显示，本发明提供一种用于测量双包层增益光纤光致暗化效应的方法，涉及特种光纤领域。通过获取不同长度的双包层增益光纤在特定条件下的功率损耗数据，并搭建光致暗化效应的模型，再对每条光纤的功率变化进行处理，消除长度影响后的数据进行归一化处理，并设立目标函数，再进行模型参数优化，获得最优的不同光纤长度与对应功率的数据参考表，利用模型计算待测光纤在预设波段的功率在光致暗化前后的变化百分比，将测量结果与参考数据进行比较，若差值小于误差阈值，则视为待测光纤的有效测量结果；本发明进行了系统化的步骤，提高了数据处理的精确度，从而提高了测量双包层增益光纤的光致暗化效应的准确性和可靠性。
天眼查资料显示，武汉长盈通光电技术股份有限公司，成立于2010年，位于武汉市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本12237.4426万人民币，实缴资本2628.1万人民币。通过天眼查大数据分析，武汉长盈通光电技术股份有限公司共对外投资了6家企业，参与招投标项目88次，财产线索方面有商标信息7条，专利信息182条，此外企业还拥有行政许可32个。
本文源自：金融界
作者：情报员
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