北京
金融界2025年1月24日消息，国家知识产权局信息显示，昆山工研院半导体显示研究院有限公司申请一项名为“定位治具、光学检测系统和光学检测方法”的专利，公开号 CN 119334604 A，申请日期为 2024年10月。
专利摘要显示，本发明公开了一种定位治具、光学检测系统和光学检测方法，属于显示器检测技术领域。定位治具包括治具本体；安装槽，设置于所述治具本体的正面且沿第一方向延伸，所述安装槽的槽底设置有通孔，所述安装槽内用于插入探头的遮光罩；第一插槽设置于所述治具本体的背面且沿第二方向延伸，所述第一插槽通过所述通孔与所述安装槽连通；第二插槽，设置于所述治具本体的侧面且沿所述第二方向延伸，所述第二插槽与所述第一插槽连通，产品的显示器能够穿过所述第二插槽并插入所述第一插槽内。本发明避免漏光影响产品的检测精度，提高产品的检测效率。
天眼查资料显示，昆山工研院半导体显示研究院有限公司，成立于2021年，位于苏州市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本6250万人民币，实缴资本6250万人民币。通过天眼查大数据分析，昆山工研院半导体显示研究院有限公司专利信息22条，此外企业还拥有行政许可2个。
本文源自：金融界
作者：情报员
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