北京
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国家知识产权局信息显示，戴森技术有限公司申请一项名为“自混合干涉测量”的专利，公开号CN123076758A，申请日期为2025年3月。
专利摘要显示，一种用于检测空间的监视区域内的粒子的自混合干涉仪，包括激光腔（1A）和光学组件（1B），所述光学组件被配置为用激光照射覆盖监视区域，所述激光具有由光学组件配置的光波前（10），使得在监视区域内的分离位置处，光波前相对于光学组件具有不同的相应方向。激光监视单元（1C）获取干涉仪响应于粒子从波前返回到激光腔组件的光而产生的干涉测量信号。处理模块（1D）在干涉测量信号波形的频率小于预设阈值频率值的条件下检测监视区域内粒子的存在，随后在频率超过预设阈值频率值的条件下根据波形频率的变化确定粒子的性质。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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