北京
国家知识产权局信息显示，卡尔蔡司工业测量技术有限公司申请一项名为“用于通过X射线辐射检查测试对象的X射线测量装置以及用于通过X射线辐射检查测试对象的方法”的专利，公开号CN122944447A，申请日期为2022年10月。
专利摘要显示，本发明涉及一种用于通过X射线辐射检查测试对象（20）的X射线测量装置（1），包括：可旋转接收设备（2）；具有至少一个X射线源（4）和至少一个X射线检测器（5）的X射线检查设备（3），其中，至少一个X射线源（4）和至少一个X射线检测器（5）布置在可旋转接收座设备（2）上；以及至少一个定位设备（7），该至少一个定位设备被配置为将测试对象（20）的至少一个预定感兴趣区域（20‑1）布置在X射线检查设备（3）的在可旋转接收座设备（2）的旋转轴线（9）上介于至少一个X射线源（4）与至少一个X射线检测器（5）之间的采集区域（8）中，并且在检查期间将该至少一个预定感兴趣区域保持在该采集区域中。本发明还涉及一种用于通过X射线辐射来检查测试对象（20）的方法。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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