北京
国家知识产权局信息显示，德州仪器公司申请一项名为“用于半导体装置的低成本、高精度和符合标准的隔离参数测试系统和方法”的专利，公开号CN122922656A，申请日期为2026年3月。
专利摘要显示，本申请涉及用于半导体装置的低成本、高精度和符合标准的隔离参数测试系统和方法。一种系统(100)包含：插座(108)，其具有第一端子和第二端子(115，116)，所述第一端子和所述第二端子经配置以连接到电子装置(118)的相应端子；AC电压源(114)，其具有耦合到所述第一端子(115)的第一输出和耦合到参考节点(117)的第二输出；第一电路(120)，其具有耦合在所述第二端子(116)与第一模数转换器(ADC)(123)之间的高通滤波器(121)；第二电路(130)，其具有耦合在所述第二端子(116)与第二ADC (133)之间的低通滤波器(132)；第三电路(140)，其具有耦合在第二端子(116)与第三ADC (143)之间的另一高通滤波器(141)；以及处理器(113)，其用以基于来自所述第一ADC (123)的样本确定局部放电，基于来自所述第二ADC (133)的样本确定泄漏电流，且基于来自所述第三ADC (143)的样本确定电弧电流。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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