北京
国家知识产权局信息显示，京东方科技集团股份有限公司申请一项名为“一种图像缺陷检测方法、设备和存储介质”的专利，公开号CN122928692A，申请日期为2025年4月。
专利摘要显示，本申请提供了一种图像缺陷检测方法、设备和存储介质，属于数据处理技术领域，旨在提高缺陷检测的可靠性，该方法包括：获取待检测图像；基于特征提取模块对待检测图像进行多层级的特征提取，得到特征提取模块中的各个特征层所输出的特征图，并从各个特征层所输出的特征图中确定多个初始特征图，对所述多个初始特征图进行特征聚合，得到目标特征图；特征聚合包括：对多个初始特征图进行分辨率调整、维度调整后，再进行线性变换输出得到目标特征图；初始特征图包括：各个特征层所输出的特征图中，用于区分图像特征为良品特征或缺陷特征的贡献程度最高的特征图；基于检测模块，对目标特征图进行缺陷检测，得到待检测图像的缺陷检测结果。
天眼查资料显示，京东方科技集团股份有限公司，成立于1993年，位于北京市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本3704432.8064万人民币。通过天眼查大数据分析，京东方科技集团股份有限公司共对外投资了73家企业，参与招投标项目375次，财产线索方面有商标信息789条，专利信息69337条，此外企业还拥有行政许可48个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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