北京
国家知识产权局信息显示，武汉恩达通科技股份有限公司申请一项名为“一种高速光模块测试系统及方法”的专利，公开号CN122932791A，申请日期为2026年8月。
专利摘要显示，本发明公开了一种高速光模块测试系统及方法，该系统包括模块接口板测试组和信号控制板测试组；模块接口板测试组包括通过板对板连接器相连的第一和第二模块接口板；第一模块接口板上设有第一测试差分信号输入组，第二模块接口板上设有第一测试差分信号输出组、射频连接器测试差分信号输入组及输出组；信号控制板测试组包括通过板对板连接器相连的第一和第二信号控制板；第一信号控制板上设有射频连接器测试差分信号输入组和输出组以及第二测试差分信号输入组，第二信号控制板上设有第二测试信号输出标准射频接口；各信号输入组与信号输出组及标准射频接口被配置为与测试仪器连接，以获取不同传输路径的损耗。本发明能够实现多重损耗全面测试。
天眼查资料显示，武汉恩达通科技股份有限公司，成立于2017年，位于武汉市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本1215.6156万人民币。通过天眼查大数据分析，武汉恩达通科技股份有限公司参与招投标项目8次，财产线索方面有商标信息9条，专利信息147条，此外企业还拥有行政许可28个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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