国家知识产权局信息显示,杰华特微电子(上海)有限公司申请一项名为“芯片测试模式的使能控制电路、使能控制方法和芯片”的专利,公开号CN122901618A,申请日期为2025年12月。
专利摘要显示,公开了一种芯片测试模式的使能控制电路、使能控制方法和芯片,该使能控制电路包括:检测模块,在每次检测到芯片的第一引脚上出现负压脉冲信号时产生检测信号;计数器,与检测模块连接以对检测信号进行计数。在第一引脚上出现负压脉冲序列的过程中,计数器对检测信号进行持续计数使计数值递增,并在该计数值达到预设数值时输出测试使能信号,控制芯片进入测试模式。以负压脉冲信号作为检测条件,可以有效防止正电压下的引脚漏电问题,且仅在特定电压条件下才触发测试模式,提升了测试模式进入的可靠性和安全性。同时,通过设置对负压脉冲序列的判断和对计数值的检测,降低因噪声或干扰导致误入测试模式的概率。
天眼查资料显示,杰华特微电子(上海)有限公司,成立于2021年,位于上海市,是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本2500万人民币。通过天眼查大数据分析,杰华特微电子(上海)有限公司专利信息24条,此外企业还拥有行政许可1个。
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本文源自:市场资讯
作者:情报员
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