芯片设计正在从平面走向立体,但一个老问题被重新摆上台面:热。在最近的设计自动化大会(DAC)闭门讨论中,来自Synopsys、Silvaco、Vinci、Keysight EDA和Siemens EDA的专家,聊了聊为什么散热正在变成芯片设计里绕不开的坎。
电压和电流,一对难解的冤家
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先进设计里有个经典取舍:电压和电流怎么平衡?Synopsys产品管理总监Lang Lin给出的答案很直接——降低电压会改变时序、拉低性能,但好处是发热减少。如果继续让芯片高速运转,就会撞上一堆热问题。
这些物理规律彼此冲突,工程师得找到那颗芯片的“甜点区”。Lin说,需要尝试真实的组合,比如这个电压配这个时序预算,然后跑一个时序、热、供电电压或功率完整性的协同优化循环。还得跑几种不同的工作负载,确认不会出故障。
问题在于,目前还没有工具能完成这个大循环。工程师一边要解决布局布线问题,一边还要同时跑时序、热和电压分析,最后还得保证设计能收敛。
Vinci半导体与电子业务负责人Satish Radhakrishnan补充了另一层:温度变化会带来电阻变化。电流通过时温度上升,电阻随之改变,性能还能不能维持?总电流要不要调整?功率预算给多少?这些因素正在走向耦合仿真,也是行业接下来发力的重点。他判断,这种耦合“可能从明年开始”。
3D-IC:不是能不能做,是什么时候做
既然问题这么多,完整的3D-IC还有戏吗?Keysight EDA新市场管理总监Chris Mueth的回答是:只是时间问题。很多问题会被解决,但这需要大量材料科学的投入。
针对老化问题,会用到专门的材科类求解器,这些工具还需要继续扩展。还有一些“奇招”,比如带流体循环的堆叠式中间冷却器。当然,这种方案制造成本极高,只能用在高性能场景,不可能普及到所有产品。
Radhakrishnan提到,业界已经在讨论3D DRAM和3D-IC。从散热角度看,有冷却中介层等不同技术,但行业趋势是走向一切堆叠在一起、光学接口从侧面接入的3D-IC。代价是更贵,所以或许得从窄应用起步。
Mueth还提醒了一个容易被忽略的方向:异质技术。把合适的模态技术用在合适的应用上,再集成到一起。如果是一个超高性能、又需要小尺寸的场景,可以用这种思路把不同技术整合起来。
材料科学和热时间常数
Silvaco业务发展副总裁Jack Berg把话题拉回材料。他认为材料极其重要,热的时间常数和电子穿过晶体管的速度是两回事,这种脱节必须被持续纳入考量。
对于3D-IC,Berg的态度很明确:不是做不做的问题,是什么时候做的问题,它一定会发生。至于算不算“完整3D-IC”,他开了个玩笑——把16个HBM堆在单个封装里,你叫它3D-IC也行。所以按定义不同,我们其实已经有了。但z轴方向的缩放会非常重要,这需要一群非常聪明的材料科学家,以及具备热和机械技能的人才能实现。
Radhakrishnan认为,混合键合正在推动这件事,而纳米级TSV等更多创新会让它成为可能。
Siemens EDA产品管理高级总监John Ferguson则把讨论拉到了更长的历史维度。他想起摩尔定律早期,每次转向新工艺,总有人说“到头了,做不到了,永远到不了下一个节点”。但最后都到了,也许不是想要的时间点,但确实到了。然后人们又会说,很好,但我需要更快、需要更好的信号完整性。
Ferguson还提到,随着MCP(模型上下文协议)的引入,不只是把聪明人聚在一起,智能的MCP能比人快得多地完成这些事,而我们需要人去找到并构建正确的MCP。他提醒,行业里常常把每件事孤立来看——这里谈热,热的影响是什么,但与此同时,别人在看别的东西。
热,从来不是一个学科能单独解决的问题。
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