北京
国家知识产权局信息显示，华兴源创（成都）科技有限公司申请一项名为“一种显示模组缺陷识别方法及系统”的专利，公开号CN122906047A，申请日期为2026年8月。
专利摘要显示，本申请提供一种显示模组缺陷识别方法及系统，方法包括：在标准成像条件下获取待识别显示模组的待识别图像，提取待识别模组中待识别模组像素在待识别图像中对应的第一灰度和第一形态特征；从预设的灰度基准中获取待识别模组像素对应的基准灰度，从预设的形态特征基准中获取待识别模组像素对应的基准形态特征，基于第一灰度和基准灰度的偏差得到待识别模组像素的灰度识别结果，基于第一形态特征和基准形态特征的特征比对得到待识别模组像素的特征比对结果；基于灰度识别结果和特征比对结果进行综合缺陷识别得到待识别显示模组的缺陷识别结果。本申请能够提升缺陷识别的准确度，降低漏检率与误检率。
天眼查资料显示，华兴源创（成都）科技有限公司，成立于2019年，位于成都市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本7500万人民币。通过天眼查大数据分析，华兴源创（成都）科技有限公司参与招投标项目44次，专利信息127条，此外企业还拥有行政许可36个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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