北京
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国家知识产权局信息显示，武汉欧康诺电子科技股份有限公司取得一项名为“一种内存条测试设备”的专利，授权公告号CN224841280U，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本实用新型公开了一种内存条测试设备，用于对内存条在可控的环境温度下进行性能测试，内存条测试设备包括：测试主机，测试主机用于测试内存条，内存条插接在测试主机上；温控模块，温控模块包括一端设置有进风口的温控单元，温控单元包括沿着第一方向依次布置的调速风扇、加热组件以及缓冲组件，缓冲组件下方设置有温控区域，内存条至少部分位于温控区域内；在调速风扇的驱动下，气流沿着第一方向依次经过进风口、调速风扇、加热组件以及缓冲组件后，经缓冲组件导向至温控区域，温控区域沿着第一方向的两端均设置有供气流流出的出风口。本实用新型提供的内存条测试设备，能够对内存条进行可控温度下的性能测试，且内存条加热均匀，测试结果准确。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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