北京
国家知识产权局信息显示，上海华岭集成电路技术股份有限公司、上海张江芯享测半导体科技有限公司申请一项名为“一种半导体ATE测试程序自优化系统及方法”的专利，公开号CN122839934A，申请日期为2026年7月。
专利摘要显示，本发明提供一种半导体ATE测试程序自优化系统及方法，系统包括：数字孪生模块用于建立与目标物理ATE测试通道相对应的可计算数字模型；虚拟验证模块与数字孪生模块相连，集成被测器件的虚拟行为模型，以可计算数字模型为基础形成虚拟测试闭环并输出仿真结果；机器学习优化模块用于基于所述仿真结果对测试程序参数进行自动搜索与多目标优化，输出优化后的参数方案；闭环校准模块用于采集物理测试数据，将其与仿真结果进行对比，依据虚实偏差对数字孪生模块的数字模型进行自动校准更新。通过数字孪生模块与虚拟验证模块的协同，将测试程序的验证工作前移至虚拟环境，避免对物理硬件的重复依赖。
天眼查资料显示，上海华岭集成电路技术股份有限公司，成立于2001年，位于上海市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本26950.7392万人民币。通过天眼查大数据分析，上海华岭集成电路技术股份有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目63次，财产线索方面有商标信息9条，专利信息217条，此外企业还拥有行政许可60个。
上海张江芯享测半导体科技有限公司，成立于2017年，位于上海市，是一家以从事专业技术服务业为主的企业。企业注册资本2013.9435万人民币。通过天眼查大数据分析，上海张江芯享测半导体科技有限公司专利信息4条。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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