北京
国家知识产权局信息显示，灿芯半导体（苏州）有限公司申请一项名为“一种面向片上系统的内置电阻退化自监测与校准电路及方法”的专利，公开号CN122819104A，申请日期为2026年8月。
专利摘要显示，本发明公开了一种面向片上系统的内置电阻退化自监测与校准电路及方法，涉及集成电路设计与可靠性监测技术领域。所述电路包括可编程电流源、带隙基准电路、多路复用开关网络、电压比较器、数模转换器和控制与存储单元，能够在外部校准模式、内部自检模式和外部验证模式下工作。本发明通过出厂精密校准建立各待测电阻的初始基线，在役期间以DAC步进扫描方式精确探测电阻压降变化并量化退化量，并在退化超限时通过外部溯源复检验证自检结果，形成“出厂校准‑在役监测‑外部验证”的完整闭环。
天眼查资料显示，灿芯半导体（苏州）有限公司，成立于2019年，位于苏州市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本5000万人民币。通过天眼查大数据分析，灿芯半导体（苏州）有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目1次，财产线索方面有商标信息1条，专利信息33条，此外企业还拥有行政许可3个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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