广东
一、核心定位：一台顶 N 台的集成化测试平台2636B 是双通道四象限源测一体机，集成了精密电源、电流源、6.5 位万用表、脉冲发生器、电子负载五大功能，无需额外搭配仪器，即可完成器件 I-V 特性、绝缘电阻、漏电流、充放电等全流程测试，大幅简化测试系统架构、降低误差与成本。二、硬核参数：精度与量程的双重天花板1. 双通道独立配置（每通道）功率：30W 直流 / 200W 脉冲，支持 ±200V 电压、±1.5A 直流 /±10A 脉冲电流输出。电流范围：0.1fA（飞安）~10A，覆盖从纳米器件微弱漏电流到功率器件大电流的全场景。电压范围：100nV（纳伏）~200V，低噪声设计（＜20mV），精准捕捉微小电压信号。测量精度：电压0.012%、电流0.03%，6.5 位分辨率，数据可信度拉满。2. 速度与缓存每秒30,000 次读数，支持高速 I-V 扫描与瞬态信号捕获。内置100 万条读数缓存，无需 PC 即可长时间连续测试，数据不丢失。三、王牌功能：双通道协同 + TSP 自动化，效率翻倍1. 双通道灵活模式独立并行：同时测试两个相同 / 不同器件，效率直接翻倍，适配量产多工位场景。同步联动：精准同步输出 / 测量，适配晶体管（栅极 + 漏极）、双端口传感器等复杂器件测试。偏置 + 扫描：一通道加固定偏置，另一通道扫描测量，轻松实现半导体器件动态特性分析。2. TSP 技术：摆脱 PC 依赖，测试更高效内置Test Script Processor，可存储并运行自定义测试脚本，脱离 PC 独立执行复杂流程，消除 GPIB 总线延迟。支持TSP-Link 高速扩展，最多串联 32 个通道，构建大型并行测试系统，无需昂贵主机箱。3. 丰富接口，适配全场景标配GPIB、USB 2.0、以太网（LXI）、TSP-Link、数字 I/O，兼容 SCPI/TSP 双编程模式，轻松对接现有测试系统，支持远程控制与自动化集成。四、应用场景：全行业覆盖，精密测试无死角
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