北京
国家知识产权局信息显示，成都晨航磁业有限公司申请一项名为“基于磁光成像的纳米晶铁芯表面微缺陷检测方法”的专利，公开号CN122793844A，申请日期为2026年8月。
专利摘要显示，本发明公开了基于磁光成像的纳米晶铁芯表面微缺陷检测方法，属于纳米晶铁芯无损检测技术领域。该方法在待测纳米晶铁芯表面设置磁光传感层，在第一方向和第二方向上分别施加相互垂直的交变激励磁场，采集多个相位点的反射磁光图像，得到第一磁光图像集合和第二磁光图像集合；逐像素提取对应相位点的一对光强值并进行比值运算，生成磁场方向比序列；提取磁场方向比序列的特征幅值和特征相位，利用特征幅值的空间梯度与特征相位的空间梯度识别微缺陷边界像素，由微缺陷边界像素围成微缺陷区域。该方案可增强微缺陷边界的磁光响应稳定性和信噪比，降低磁畴背景干扰，改善微缺陷区域识别效果。
天眼查资料显示，成都晨航磁业有限公司，成立于2015年，位于成都市，是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本1200万人民币。通过天眼查大数据分析，成都晨航磁业有限公司参与招投标项目23次，财产线索方面有商标信息1条，专利信息40条，此外企业还拥有行政许可5个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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