北京
国家知识产权局信息显示，常州银河世纪微电子股份有限公司取得一项名为“一种元器件的带电可靠性测试装置”的专利，授权公告号CN224758639U，申请日期为2025年9月。
专利摘要显示，本实用新型提供了一种元器件的带电可靠性测试装置，其能够在一个进气槽打开时阻挡、封闭另一个进气槽，从而减少对升温、降温效率的影响，同时也能保证测试时温度的稳定。其包括支架，支架内设有测试箱，测试箱的底部设有用于放置元器件的放置块，支架的一侧顶部设有第一进气槽，支架的底部一侧设有第二进气槽，第一进气槽与第二进气槽通过第一封闭组件启闭，第一封闭组件包括驱动机构、第一挡板和第二挡板，第一挡板转动安装在第一进气槽处，第二挡板转动安装在第二进气槽处，驱动机构用于驱动第一挡板和第二挡板转动，并使得当第一进气槽打开时，第二进气槽关闭，当第二进气槽打开时，第一进气槽关闭。
天眼查资料显示，常州银河世纪微电子股份有限公司，成立于2006年，位于常州市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本12890.3899万人民币。通过天眼查大数据分析，常州银河世纪微电子股份有限公司共对外投资了10家企业，参与招投标项目39次，财产线索方面有商标信息19条，专利信息300条，此外企业还拥有行政许可28个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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