北京
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国家知识产权局信息显示，索尼半导体解决方案公司申请一项名为“光检测装置”的专利，公开号CN122767118A，申请日期为2024年2月。
专利摘要显示，根据本公开实施例的光检测装置包括：半导体基板，多个像素在所述半导体基板中沿面内方向布置成阵列形状，所述半导体基板包括彼此相对的第一表面和第二表面；包含第一导电型杂质的第一杂质区域，所述第一杂质区域在所述半导体基板的所述第一表面侧设置在每个所述像素的大致中心处；包含第二导电型杂质的第二杂质区域，所述第二杂质区域形成为埋入所述半导体基板中以包围所述第一杂质区域；设置在所述第一杂质区域和所述第二杂质区域之间的半导体区域，所述半导体区域的杂质浓度低于所述第一杂质区域中包含的所述第一导电型杂质的峰值浓度和所述第二杂质区域中包含的所述第二导电型杂质的峰值浓度中的每一者。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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