北京
国家知识产权局信息显示，常州银河世纪微电子股份有限公司申请一项名为“降低接触电阻的开尔文测试方法、测试夹具”的专利，公开号CN122709761A，申请日期为2026年5月。
专利摘要显示，本发明属于半导体器件测试技术领域，具体涉及一种降低接触电阻的开尔文测试方法及测试夹具，包括如下步骤：S1，识别待测器件同一电极的多个并联的引脚；S2，将所述引脚在测试夹具上电气短接得到等效触点，短接方式包括：将所述引脚的总接触点数设为H；当H为奇数时，将单边（H/2）+0.5的引脚与另一边（H/2）‑0.5的引脚上下两组短接，使等效触点的数量为1；当H为偶数时，将单边（H‑2）/2的引脚与另一边H‑[（H‑2）/2]的引脚上下两组短接，使等效触点的数量为2；S3，采用开尔文四线制，Force端接入等效触点、Sense端采集等效触点电位；S4，施加额定测试电流与驱动电压，对待测器件进行测试。
天眼查资料显示，常州银河世纪微电子股份有限公司，成立于2006年，位于常州市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本12890.3899万人民币。通过天眼查大数据分析，常州银河世纪微电子股份有限公司共对外投资了10家企业，参与招投标项目39次，财产线索方面有商标信息19条，专利信息299条，此外企业还拥有行政许可28个。
声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。
本文源自：市场资讯
作者：情报员
特别声明：以上内容(如有图片或视频亦包括在内)为自媒体平台“网易号”用户上传并发布，本平台仅提供信息存储服务。
Notice: The content above (including the pictures and videos if any) is uploaded and posted by a user of NetEase Hao, which is a social media platform and only provides information storage services.
