在半导体、光电器件前沿研发领域,器件电学性能表征、样品精密测试对设备的稳定性、操作便捷性、测量精度有着严苛标准。森东宝 CM 系列手动探针台,依托紧凑化结构设计、优异测试性能,成为高校科研院所、芯片企业实验室主流选型。
CM 系列探针台外观造型小巧精致,整机遵循人机工程学设计,操作流畅简便,同时具备微米级超高测量定位精度,兼顾空间利用率与测试可靠性。
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全面多元的测试适配能力
按测试样品分类,可实现:
晶圆测试、LED 测试、功率器件测试、MEMS 测试、PCB 测试、液晶面板测试、太阳能电池片测试、材料表面电阻率测试。
按测试应用分类,支持工况:
射频测试、高温环境测试、100fA 级低电流微弱信号测试、I-V/C-V/P-I-V 测试、高压大电流测试;还可拓展磁场环境测试、辐射环境测试、积分球光电联合测试,适配多样化前沿实验方案。
设备核心聚焦 I-V/C-V、P-I-V 基础与进阶表征,广泛服务于半导体产业、光电行业,擅长复杂、高速器件的精密电气测量研发工作,兼容搭配半导体参数分析仪、源表、矢量网络分析仪等主流测试仪器,搭建一体化测试系统。
广泛落地,众多知名机构实际应用
凭借稳定性能与高性价比国产替代优势,CM 系列探针台已批量入驻国内各大重点实验室,落地客户包含:
清华大学材料系、厦门大学、华侨大学、南京邮电大学、电子科技大学、西北工业大学、江南大学、中南大学、陕西师范大学、上海交通大学、深圳大学、西南大学、哈尔滨工业大学、吉林大学等高等院校;
中科院半导体所、中科院苏州纳米研究院等国家级科研机构;
世纪晶圆、方正微电子等半导体企业,累计服务数十家行业客户,经受大量科研实验与企业研发项目长期验证。
面对第三代半导体、光电子、MEMS 传感器、新材料等领域持续增长的研发测试需求,CM 系列探针台以灵活拓展性、本地化技术服务优势,持续为国内科研创新、芯片研发提供可靠硬件支撑。
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