北京
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国家知识产权局信息显示，上海亿能达电子科技有限公司申请一项名为“基于图神经网络的元器件电路板缺陷检测方法”的专利，公开号CN122492660A，申请日期为2026年5月。
专利摘要显示，本发明公开了基于图神经网络的元器件电路板缺陷检测方法，包括如下步骤：获取电路板光学图像及清单坐标，提取焊点、引脚和走线特征形成细粒度实体；构建电气连接与空间邻接关系生成多关系结构图与门控矩阵；对多关系结构图进行图神经网络编码得到结构表征并生成异常证据与复杂度指数；在缺陷敏感池化中确定簇数并融合生成细粒度分配矩阵；基于分配矩阵聚合形成器件级结构表征并输出器件级缺陷判定；通过层间互证与局部重池化输出最终缺陷结果。本发明基于多关系感知图神经网络与缺陷敏感层次化池化方法，实现元器件电路板缺陷的结构化联合判定，具备检测准确性高、稳定性强和误检率低的优点。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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