北京
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国家知识产权局信息显示，北京弈芯半导体科技有限公司申请一项名为“闭环自适应衰落信道的测试方法及测试系统”的专利，公开号CN122496125A，申请日期为2026年6月。
专利摘要显示，本发明提供了一种闭环自适应衰落信道的测试方法及测试系统，包括：预设初始的信道参数；基于信道参数对被测终端进行性能测试，包括：根据信号参数对基带信号进行卷积处理，生成携带衰落效应的基带信号；对携带衰落效应的基带信号进行变频处理，发送至被测终端进行测试；性能测试过程中，实时接收并解析被测终端反馈的性能指标，根据性能指标对信道参数进行自适应控制；重复执行性能测试，直至满足性能测试终止条件，终止性能测试，并输出性能测试结果。本发明的技术方案，简化了测试流程，提高了测试速度，且无需外接信道模拟器，性价比高，形成了完整闭环测试控制，更贴近真实的通信行为，测试结果更精准。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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