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国家知识产权局信息显示，桂林电子科技大学;南宁桂电电子科技研究院有限公司申请一项名为“一种基于变权融合与可解释性分析的电离层TEC预测方法”的专利，公开号CN122470891A，申请日期为2026年5月。
专利摘要显示，本发明涉电离层监测技术领域，具体涉及一种基于变权融合与可解释性分析的电离层TEC预测方法，通过获取TEC观测数据及空间环境参数数据，对数据进行数值化处理、缺失值填补、特征筛选、小波去噪和趋势分解，构建滑动窗口样本；分别建立CNN‑BiLSTM残差预测分支和XGBoost残差预测分支，并根据两个分支在不同预测步长上的训练误差自适应确定融合权重，对分支结果进行变权融合，叠加趋势项得到最终TEC预测结果；进一步分别计算各分支输入参数贡献值，并依据与预测结果一致的融合权重对分支贡献值再融合，得到各输入参数的贡献占比。本发明不仅能够提高TEC预测精度、稳定性和可信度，还能够量化不同空间环境因子对TEC变化的贡献度，为空间物理机制研究提供了可视化依据。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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