北京
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国家知识产权局信息显示，甬江实验室;甬江实验室微谱（浙江）技术服务有限公司;上海微谱检测科技集团股份有限公司取得一项名为“一种X射线衍射样品盘”的专利，授权公告号CN224535857U，申请日期为2025年8月。
专利摘要显示，本实用新型公开了一种X射线衍射样品盘，包括圆盘和底托，所述底托固定安装在所述圆盘的底部，所述圆盘内设置有第一凹槽，所述第一凹槽的底面设置有贯穿至所述底托内的第二凹槽。通过在圆盘下方增加底托，可实现更多厚块样的制样测试，且该样品盘尺寸满足90位自动进样器配套的旋转样品台，可通过手动放置样品盘于旋转样品台上进行旋转测试。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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