北京
国家知识产权局信息显示，中嘉微视（深圳）半导体科技有限公司申请一项名为“光源老化识别方法、装置、设备、存储介质及程序产品”的专利，公开号CN122385144A，申请日期为2026年3月。
专利摘要显示，本申请公开了一种光源老化识别方法、装置、设备、存储介质及程序产品。该方法包括：在自动光学检测系统生产运行中获取待评估图像；提取待评估图像的目标感兴趣区域，并对目标感兴趣区域执行预处理操作，得到目标光照面，所述预处理操作包括剔除干扰区域、光照面估计、归一化处理；将所述目标光照面与基准光照面模板进行特征对比，计算得到表征光源状态的多维度特征参数，基于所述多维度特征参数构建光源劣化特征向量，所述多维度特征参数包括表征光源空间分布状态的空间特征参数、表征光源亮度分布状态的亮度特征参数；对所述评估窗口内的光源劣化特征向量进行稳健聚合和趋势检测，结合预设阈值判定策略与多设备对照机制，确定光源老化结果。
天眼查资料显示，中嘉微视（深圳）半导体科技有限公司，成立于2025年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，中嘉微视（深圳）半导体科技有限公司参与招投标项目2次，专利信息26条。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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