北京
国家知识产权局信息显示，聚灿光电科技（宿迁）有限公司申请一项名为“一种LED芯片缺陷的筛选测试方法”的专利，公开号CN122386051A，申请日期为2026年4月。
专利摘要显示，本发明公开了一种LED芯片缺陷的筛选测试方法，属于LED芯片测试技术领域。本发明将IR测试置于ESD前后并对数据进行比较，以捕捉ESD应力对芯片潜在缺陷的“激发”效应；同时将光性测试安排在两次IR测试之间，以消除“暂态效应”对测试稳定性的干扰，测试数据稳定可靠。本发明通过对IR1和IR2的同步筛选，对外延缺陷和银迁移相关缺陷的检出率相较于常规流程提高了50%以上。本发明通过调整测试时序，在不增加硬件成本的前提下，优化测试流程与数据分析逻辑，能够深度挖掘测试数据价值，精准识别出常规流程难以发现的潜在缺陷。
天眼查资料显示，聚灿光电科技（宿迁）有限公司，成立于2017年，位于宿迁市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本300000万人民币。通过天眼查大数据分析，聚灿光电科技（宿迁）有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目46次，财产线索方面有商标信息1条，专利信息257条，此外企业还拥有行政许可44个。
声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。
本文源自：市场资讯
作者：情报员
特别声明：以上内容(如有图片或视频亦包括在内)为自媒体平台“网易号”用户上传并发布，本平台仅提供信息存储服务。
Notice: The content above (including the pictures and videos if any) is uploaded and posted by a user of NetEase Hao, which is a social media platform and only provides information storage services.
