国家知识产权局信息显示,深圳市德博微电子有限公司申请一项名为“一种低容ESD器件的高温传输特性测试方法及系统”的专利,公开号CN122293220A,申请日期为2026年5月。
专利摘要显示,本发明提供一种低容ESD器件的高温传输特性测试方法及系统,包括:将待测的低容ESD器件阵列并联接入测试信道的差分信号线;在预设温度环境下,向测试信道同时施加PRBS码流信号和叠加于PRBS码流信号之上的浪涌脉冲;根据对齐后的眼图张开度变化曲线,提取浪涌冲击发生后眼图张开度的瞬时跌落深度以及眼图张开度恢复至冲击前水平的恢复时间;当瞬时跌落深度超过预设的眼图跌落阈值,或恢复时间超过预设的恢复时间阈值时,判定低容ESD器件阵列不满足高温环境下浪涌冲击时不丢包的防护要求。本发明能够在模拟实际工作条件下同步评估高温环境对低容ESD器件信号传输质量和浪涌防护能力影响。
天眼查资料显示,深圳市德博微电子有限公司,成立于2015年,位于深圳市,是一家以从事零售业为主的企业。企业注册资本500万人民币。通过天眼查大数据分析,深圳市德博微电子有限公司财产线索方面有商标信息9条,专利信息10条,此外企业还拥有行政许可6个。
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本文源自:市场资讯
作者:情报员
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