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我们的产品组合包括适用于吸收边近能区和扩展能区的集成XAS系统,靠近吸收边的NEXAFS区域显示出X射线吸收系数的最大变化,通常由核心电子向非束缚能级跃迁引起的强烈、窄共振主导。NEXAFS对局部原子状态(如氧化态)非常敏感。
EXAFS结构由发射的光电子的波动性形成,光电子被周围原子散射,通过相干和相消干涉形成振荡,进而可用于推断键长和邻近原子的信息。
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hiXAS集成XAFS解决方案
4-30keV范围的EXAFS和XANES分析完整解决方案. 在紧凑的占地面积内,提供实验室级别的同步辐射质量光谱。其宽通带允许获取邻近原子的距离和配位数信息。
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proXAS台式NEXAFS系统
用于200-1200eV范围的NEXAFS光谱学即用型系统。其测量质量媲美同步辐射结果,可在实验室进行化学态分析。无需申请同步辐射机时,即可深入了解元素的电子构型,包括氧化态、键长和分子取向。
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