清华-精智达联合研究中心揭牌 共筑AI赋能先进存储测试新高地

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（来源：Seichitech精智达）

4月26日，“清华-精智达人工智能赋能先进存储测试系统联合研究中心”揭牌仪式在清华大学举行。清华大学副校长吴华强与深圳精智达技术股份有限公司董事长张滨共同为研究中心揭牌，清华大学集成电路学院院长尹首一主持揭幕仪式，双方相关领导、专家及师生代表出席仪式。

揭牌仪式

此次揭牌是双方继2023年-2026年前期合作后，紧扣AI时代先进存储产业爆发机遇，正式开启的新一期战略合作。前期合作中，清华大学集成电路学院与精智达团队围绕存储测试核心技术并肩攻关，在算法逻辑向量生成（ALPG）、MEMS探针卡等关键领域取得突破性进展，填补了国内相关技术空白，也为双方本期深化合作奠定了坚实的技术与互信基础。

在本期合作中，双方将充分发挥清华大学集成电路学院的学术与人才优势，结合精智达的工程化与产业化能力，承载技术引领、产业落地、人才共育三重核心使命，共同构建面向下一代先进存储的智能测试设备体系。双方将打通从基础研究、技术攻关到产业应用的全链条，力争在核心技术上取得原创性突破，让学术成果快速转化为可量产、可推广的测试设备，服务国产存储产业链的安全与效能提升。

清华大学副校长吴华强在致辞中表示：“2023年4月，清华大学集成电路学院与精智达成立新一代存储器测试系统联合研究中心，在算法逻辑向量生成（ALPG）等关键技术上实现从理论算法、芯片架构到整机集成的完全国产化突破。进入‘十五五’时期，集成电路产业将进入‘实现创新引领’的下半场，围绕人工智能赋能先进存储测试系统成立联合研究中心，是双方具有创新性、前瞻性和战略性的合作举措，有望推动我国先进存储测试技术达到新高度。希望双方在新一轮合作中紧密协同，为我国存储测试领域从‘自主可控’迈向‘全球领先’作出更大贡献。”

精智达董事长张滨表示：“当前，人工智能正深刻改变世界，而AI的底层根基，正是半导体存储器的性能与可靠性。从HBM到下一代存储架构，先进存储芯片的迭代周期不断缩短，对测试的智能化、精准化和全链条化提出了前所未有的严苛要求。然而，存储测试设备市场长期被外部巨头垄断，我国在这一领域仍面临诸多‘卡脖子’瓶颈，这正是我们这一代半导体人必须啃下的硬骨头。围绕这一目标，联合研究中心承载着三重使命：技术引领实现存储测试前沿技术原创突破，产业落地服务国产存储产业链安全与效能提升，人才共育打造先进存储测试领域的创新策源地、人才蓄水池。此次与清华再度携手，精智达将投入最优质的资源、组建最精锐的团队，与清华师生紧密协作，力争早日产出标志性成果。”

精智达董事长张滨致辞

揭牌仪式后，精智达半导体市场专家与清华大学集成电路学院教授苏菲分别作了题为《先进存储测试与ATE技术发展：挑战、机遇与智能化趋势》和《人工智能赋能先进存储测试：迈向智能化测试体系》的学术报告，深入剖析了先进存储测试面临的产业痛点，系统探讨了AI技术为测试领域带来的变革机遇与产学研协同创新的广阔空间。

面向未来，精智达将以此次揭牌为新起点，携手清华大学持续深化校企协同创新，力争推动中国存储测试技术从“追赶”向“领跑”跨越，为保障我国半导体产业链供应链安全、实现高水平科技自立自强注入强劲动力。