北京
国家知识产权局信息显示，深圳中科飞测科技股份有限公司申请一项名为“探测系统性能检测方法、装置、探测系统及存储介质”的专利，公开号CN121721070A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本申请公开了一种探测系统性能检测方法、装置、探测系统及存储介质，属于检测技术领域。该方法包括：在阻挡电子束的情况下，控制探测系统中光电倍增管的电压按照电压值序列中的多个电压值进行改变，并确定电压值序列中每个电压值分别对应的测量图像的第一灰度数据；在电子束照射参考样本的情况下，控制光电倍增管的电压按照电压值序列中的多个电压值进行改变，并确定每个电压值分别对应的测量图像的第二灰度数据；基于相同电压值下的第一灰度数据和第二灰度数据以及电子束的相关信息，确定对应的检测量子效率；基于电压值序列中的每个电压值及其对应的检测量子效率，确定探测系统的性能。本申请能够通过简单且快速的方法对探测系统进行性能评估。
天眼查资料显示，深圳中科飞测科技股份有限公司，成立于2014年，位于深圳市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本32000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳中科飞测科技股份有限公司共对外投资了12家企业，参与招投标项目281次，财产线索方面有商标信息254条，专利信息1096条，此外企业还拥有行政许可40个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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