国家知识产权局信息显示,苏州泰纽测试服务有限公司申请一项名为“基于低场核磁的多孔材料孔隙率检测方法”的专利,公开号CN121633172A,申请日期为2025年12月。
专利摘要显示,本发明属于材料检测技术领域,具体涉及多孔材料孔隙率的核磁共振检测方法:将多孔材料样品烘干至恒重;将烘干后的样品与过量去离子水混合并进行真空处理;根据样品特性选择对应检测方案;采用低场核磁共振分析仪对饱水后的样品进行测试,获取样品的核磁共振信号量;配置一系列已知质量的去离子水标样在相同测试参数下进行核磁共振测试,建立核磁信号量与水质量的标准曲线并拟合方程;根据标准曲线拟合方程,将待测样品的核磁信号量转换为饱和水质量,结合样品质量或体积计算孔隙率,并进行修正。本发明解决了传统方法操作复杂、损伤材料及无法有效排除游离水干扰的问题,实现了对多孔硅基、硅碳复合等负极材料孔隙率的快速、无损、高精度检测。
天眼查资料显示,苏州泰纽测试服务有限公司,成立于2015年,位于苏州市,是一家以从事专业技术服务业为主的企业。企业注册资本200万人民币。通过天眼查大数据分析,苏州泰纽测试服务有限公司参与招投标项目8次,专利信息15条,此外企业还拥有行政许可4个。
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本文源自:市场资讯
作者:情报员
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