北京
国家知识产权局信息显示，长鑫闵科存储技术（上海）有限公司申请一项名为“保护环电阻的检测电路及检测方法、存储器”的专利，公开号CN121577972A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本公开提供了一种保护环电阻的检测电路、保护环电阻的检测方法和存储器。保护环电阻的检测电路，包括：多个参考电阻，各参考电阻的电阻值不同；第一电源，与保护环的第一端和多个参考电阻的第一端连接，用于向保护环和多个参考电阻输入第一输入电压；电流调整模块，与保护环的第二端和多个参考电阻的第二端连接，被配置为使流过保护环和多个参考电阻的电流具有相同电流值；电阻检测模块，被配置为获取保护环的第二端的第一电压值和各参考电阻的第二端的第二电压值，并将第一电压值与各第二电压值进行比较，以获取保护环的电阻值。该保护环电阻的检测电路能够准确检测保护环的电阻，以准确判断保护环是否失效。
天眼查资料显示，长鑫闵科存储技术（上海）有限公司，成立于2023年，位于上海市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，长鑫闵科存储技术（上海）有限公司专利信息27条，此外企业还拥有行政许可3个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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