北京
国家知识产权局信息显示，胜宏科技（惠州）股份有限公司;惠州市胜宏精密技术有限公司申请一项名为“一种背钻残桩的非破坏性光学测量方法及系统”的专利，公开号CN121576921A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本发明涉及一种背钻残桩的非破坏性光学测量方法及系统，方法包括以下步骤：S1通过光学测量在PCB外表面建立Z轴坐标系；S2聚焦目标信号层导体表面，记录为电气基准面；S3计算理论位置，从电气基准面沿Z轴方向偏移一预设的理论残桩值，计算出背钻孔的理论孔底位置；S4测量与判定，将光学测量设备的焦点移动至背钻孔的物理孔底，记录其Z轴坐标，并基于Z轴坐标系，计算该物理孔底坐标与理论孔底位置之间的轴向偏差量ΔZ，根据ΔZ的值判定残桩长度是否合格。本发明提供一种背钻残桩的非破坏性光学测量方法及系统，以实现快速、精确且不损伤电路板的残桩长度测量。
天眼查资料显示，胜宏科技（惠州）股份有限公司，成立于2006年，位于惠州市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本87034.9313万人民币。通过天眼查大数据分析，胜宏科技（惠州）股份有限公司共对外投资了7家企业，参与招投标项目38次，财产线索方面有商标信息103条，专利信息646条，此外企业还拥有行政许可145个。
惠州市胜宏精密技术有限公司，成立于2020年，位于惠州市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本10000万人民币。通过天眼查大数据分析，惠州市胜宏精密技术有限公司参与招投标项目2次，此外企业还拥有行政许可13个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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